Optical thickness of a plant leaf measured with THz pulse echoes - ANR - Agence nationale de la recherche Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2020

Optical thickness of a plant leaf measured with THz pulse echoes

Yannick Abautret
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1118618
Dominique Coquillat
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 995041
Myriam Zerrad
Gabriel Soriano
Bruno Grezes-Besset
  • Fonction : Auteur
Frédéric Chazallet
  • Fonction : Auteur
Claude Amra

Résumé

We analyze Terahertz (THz) echoes by reflection on a sunflower leaf in order to evaluate the internal leaf structure (geometry, complex indices and thicknesses). The analysis is based on the thin film multilayer formalism in time and frequency domains. A high agreement is emphasized between experiment and theory, and we evaluate how realistic the multilayer solution can be in regard to our knowledge related to the sunflower leaf. A test campaign is performed in Charles Coulomb laboratory, which is equipped with the THz spectrometer.
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Spie West 2020.pdf (893.76 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-02978005 , version 1 (23-11-2021)

Identifiants

Citer

Yannick Abautret, Dominique Coquillat, Myriam Zerrad, Ryad Bendoula, Gabriel Soriano, et al.. Optical thickness of a plant leaf measured with THz pulse echoes. TERAHERTZ, RF, MILLIMETER, AND SUBMILLIMETER-WAVE TECHNOLOGY AND APPLICATIONS XIII, 2020, 2020, San Francisco, United States. pp.112790L, ⟨10.1117/12.2543710⟩. ⟨hal-02978005⟩
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